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簡要描述:EDX-5000 PLUS XRF Spectr礦產(chǎn)礦石專用分析儀ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。
產(chǎn)品廠地:蘇州市
廠商性質:生產(chǎn)廠家
更新時間:2024-10-29
訪  問  量:1321產(chǎn)品分類
詳細介紹
| 品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 通用 | 
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 臺式/落地式 | 
| 應用領域 | 環(huán)保,石油,地礦,電子/電池,綜合 | 
EDX-5000 PLUS XRF Spectr礦產(chǎn)礦石專用分析儀
礦產(chǎn)礦石專用分析儀
Simply the Best
>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器
>真空光路配備薄膜濾光片技術,提高輕元素檢出限
>可同時分析40種元素
>可分析固體,液體,粉末和泥漿
>yuan裝進口X光管管芯提供可靠zhuo越樣品激發(fā)性能
>無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結果)
>無需化學試劑,無耗材,更環(huán)保,更高效
EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家
ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,
生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質量控制。
具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物(Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等)都可達到最佳分析效果。
EDX9000B pluszhuo越的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類
產(chǎn)品特點
1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景zhuan利技術
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作
7.zhuan利薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限
礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B Plus
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm  | 
超大樣品腔:465mm*330mm*110mm  | 
半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×高75mm  | 
儀器重量: 48Kg  | 
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾  | 
可分析含量范圍:1ppm- 99.99%  | 
探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器  | 
探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV  | 
處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器  | 
譜總通道數(shù):4096道  | 
X光管:高功率50瓦光管(yuan裝進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻  | 
光管窗口材料:鈹窗  | 
準直器:多達8種選擇,最小0.2mm  | 
濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換  | 
高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA  | 
高壓參數(shù):最小5kv可控調節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%  | 
樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭  | 
電壓:220ACV 50/60HZ  | 
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C  | 
儀器配置
>標準配置  | >可選配置  | 
純Ag初始化標樣  | 磨樣機  | 
真空泵  | 壓片機  | 
礦石專用樣品杯  | 烘干箱  | 
USB數(shù)據(jù)線  | ESI-900型XRF專用全自動熔樣機  | 
電源線  | 電子秤  | 
測試薄膜  | 礦石標準物質  | 
儀器出廠和標定報告  | 交流凈化穩(wěn)壓電源  | 
保修卡  | 150目篩子  | 
全新設計的XTEST分析軟件
軟件內核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。
*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量
*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質效應,增強和吸收。
*譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖
*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數(shù)。
*可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。
*基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。
鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告
樣品  | 氧化鎂  | 三氧化二鋁  | 二氧化硅  | 氧化鉀  | 氧化鈣  | 二氧化鈦  | 氧化錳  | 三氧化二鐵  | 
Sample-1  | 0.438  | 84.577  | 8.754  | 0.196  | 0.502  | 3.753  | 0.049  | 1.966  | 
Sample-2  | 0.442  | 84.853  | 8.88  | 0.197  | 0.522  | 3.799  | 0.052  | 1.962  | 
Sample-3  | 0.424  | 84.508  | 8.81  | 0.197  | 0.509  | 3.852  | 0.051  | 1.983  | 
Sample-4  | 0.427  | 84.537  | 8.636  | 0.196  | 0.513  | 3.777  | 0.051  | 1.963  | 
Sample-5  | 0.424  | 84.501  | 8.709  | 0.197  | 0.503  | 3.791  | 0.05  | 1.973  | 
Sample-6  | 0.415  | 84.496  | 8.737  | 0.2  | 0.513  | 3.861  | 0.051  | 2.013  | 
Sample-7  | 0.45  | 84.818  | 8.917  | 0.197  | 0.511  | 3.854  | 0.051  | 1.966  | 
Sample-8  | 0.423  | 84.577  | 8.689  | 0.201  | 0.501  | 3.838  | 0.05  | 1.971  | 
Sample-9  | 0.447  | 84.381  | 8.74  | 0.199  | 0.495  | 3.853  | 0.05  | 1.971  | 
Sample-10  | 0.453  | 84.753  | 8.893  | 0.201  | 0.517  | 3.793  | 0.052  | 1.981  | 
Average 平均值  | 0.434  | 84.6  | 8.776  | 0.198  | 0.509  | 3.817  | 0.051  | 1.975  | 
Standard Deviation   | 0.013  | 0.155  | 0.094  | 0.002  | 0.008  | 0.039  | 0.001  | 0.015  | 
RSD  | 3.10%  | 0.18%  | 1.08%  | 0.97%  | 1.63%  | 1.02%  | 1.91%  | 0.76%  | 
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